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工業(yè)CT能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式,清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體內(nèi)部的結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。工業(yè)CT系統(tǒng)通常由射線源、機(jī)械掃描系統(tǒng)與自動(dòng)控制系統(tǒng)、探測(cè)器系統(tǒng)及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、輔助系統(tǒng)等組成,結(jié)合了計(jì)算機(jī)、自動(dòng)控制、機(jī)械、光學(xué)物理等多項(xiàng)技術(shù)。工業(yè)CT檢測(cè)中,CT圖像質(zhì)量與檢測(cè)時(shí)間及系統(tǒng)開(kāi)銷是相關(guān)的。因此檢測(cè)過(guò)程必須要以檢測(cè)需求為基礎(chǔ),制定其他相關(guān)的工藝參數(shù)。工業(yè)CT應(yīng)用優(yōu)勢(shì):1、準(zhǔn)確定位,圖像更易識(shí)別常規(guī)射線檢測(cè)技術(shù)主要是...
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工業(yè)CT檢測(cè)技術(shù)涉及了核物理學(xué)、微電子學(xué)、光電子技術(shù)、儀器儀表、精密機(jī)械與控制、計(jì)算機(jī)圖像處理與模式識(shí)別等多學(xué)科領(lǐng)域,是一個(gè)技術(shù)密集型的高科技產(chǎn)品。工業(yè)CT檢測(cè)的性能優(yōu)勢(shì):1、自動(dòng)型測(cè)試:快捷、簡(jiǎn)單、方便。電源380AC與220AC自動(dòng),自動(dòng)計(jì)算出拐點(diǎn)電壓和電流及復(fù)合誤差,直觀判斷互感器是否合格??扇詣?dòng)地測(cè)試描繪伏安特性曲線,省去手動(dòng)調(diào)壓、人工記錄、整理、描曲線等煩瑣勞動(dòng);無(wú)需專門培訓(xùn),容易掌握。缺點(diǎn):可靠性差;體積較大,需要外附電源。2、功能全面:可測(cè)試保護(hù)CT伏安特性、...
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X射線探傷儀采用的探頭應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,它可以根據(jù)缺陷類型的不同和被檢測(cè)樣品的形狀來(lái)設(shè)計(jì),做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應(yīng)檢測(cè)部件的外形。不同的探頭可以用于檢測(cè)不同的被測(cè)物品,它自帶的標(biāo)準(zhǔn)探頭可以檢測(cè)裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。X射線探傷儀的保養(yǎng)要點(diǎn)和方法:1、正確使用很多時(shí)候,正確的使用方法是對(duì)機(jī)器的一種保養(yǎng)。操作探傷儀的人員應(yīng)了解探傷儀的性能特點(diǎn),熟悉探傷儀的各種按鈕,了解操作...
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CT全稱是ComputedTomography,翻譯過(guò)來(lái)就是電子計(jì)算機(jī)斷層掃描,有工業(yè)用和醫(yī)用兩類。今天我們?yōu)榇蠹医榻B工業(yè)CT這款設(shè)備,它是利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的X射線或γ射線,在被檢測(cè)物體中的衰減規(guī)律及分布情況,就有可能由探測(cè)器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息,最后用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù),以圖像形式顯示出來(lái)。常規(guī)射線檢測(cè)技術(shù)主要是把三維物體投影到二維平面上,容易造成圖像信息的疊加,如果想要獲得圖像上的信息,沒(méi)有經(jīng)驗(yàn)的話,對(duì)目標(biāo)進(jìn)行準(zhǔn)確定位...
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工業(yè)CT是一種X射線掃描成像技術(shù),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化準(zhǔn)確測(cè)量,并可搭配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測(cè)量,同時(shí)可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。工業(yè)CT檢測(cè)主要用于檢測(cè)高密度和大尺寸物體,應(yīng)用高能量X射線探,需有更高的系統(tǒng)分辨力等等。目前工業(yè)CT技術(shù)的應(yīng)用十分廣泛;在汽車等制造領(lǐng)域,可以用于零部件的缺陷檢測(cè)、質(zhì)量控制和實(shí)效分析;在電子行業(yè),可以用于芯片封裝多余物檢測(cè)、封裝工藝改進(jìn)和逆向設(shè)計(jì);在航空航天領(lǐng)域可用于產(chǎn)品質(zhì)量控制、裝配工藝分析;...
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